MIT科學家發現可以增強核材料和計算機芯片耐久性的X射線技術
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來源：cnBeta.com 更新時間：2025-09-02 11:09:38 [我要投稿] |
| 致力于核材料突破的麻省理工學院科學家們取得了一項對微電子領域具有重大意義的意外發現：他們發現，利用X射線束不僅可以實時觀察材料失效，還可以在實驗過程中精確控制材料內部的應變量。這項新發現有望為增強半導體芯片的電學和光學特性開辟新方法，為工程師提供 ...[查看原文] |
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