新方法可量化惡劣環(huán)境對(duì)材料的影響
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來(lái)源：科技日?qǐng)?bào) 更新時(shí)間：2024-11-11 15:34:32 [我要投稿] |
| 美國(guó)伊利諾伊大學(xué)厄巴納-香檳分校、桑迪亞國(guó)家實(shí)驗(yàn)室及巴克內(nèi)爾大學(xué)團(tuán)隊(duì)共同發(fā)現(xiàn)：從常見(jiàn)礦物白云母中獲取的研究成果，再結(jié)合地震統(tǒng)計(jì)模型，可以量化惡劣環(huán)境因素對(duì)材料性能的影響。這一發(fā)現(xiàn)對(duì)于先進(jìn)太陽(yáng)能電池板、地質(zhì)碳封存設(shè)施以及建筑、道路和橋梁等基礎(chǔ)設(shè)施所 ...[查看原文] |
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